SJ/T 11212-1999 pdf下载 石英晶体元件参数的测量 第6部分 激励电平相关性(DLD)的测量，SJ/T 11212-1999 是 1999 年实施的电子行业标准，等同采用 IEC 60444-6:1995，适用于石英晶体元件激励电平相关性（DLD）测量。规定三种方法：A（π 型网络，全频率）、B（基准法，反射法 /π 型网络）、C（振荡器法，适合批量）。涵盖测量条件、仪器、步骤、数据处理及结果评定，用于评估晶体频率 / 电阻随激励电平的变化，保障产品稳定性与可靠性，后被 GB/T 22319.6-2023 替代。
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